影響QNix 尼克斯測(cè)厚儀測(cè)量的幾種因素
每一種測(cè)厚儀器都有一個(gè)臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響;對(duì)試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的;試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量也是不可靠的;
基體金屬和涂層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大，粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同的位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙，還必須在未涂的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)，或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解去除涂層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn);
周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重干擾磁性測(cè)厚工作;
探頭會(huì)使軟涂層試件變形，因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù);
妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著物質(zhì)，必須清除，在測(cè)量中，要保持壓力恒定，探頭與試件表面保持垂直，才能達(dá)到的測(cè)量。
磁性法測(cè)量厚度受基體金屬性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，無(wú)損檢測(cè)低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份及熱處理方法有關(guān),應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
影響QNix 尼克斯測(cè)厚儀精度的十一條因素：
1、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
3、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
4、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
5、曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
6、試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
8、磁場(chǎng)
周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
9、附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
10、測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響QNix 尼克斯測(cè)厚儀的使用方法測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
11、測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
采用QNix 尼克斯測(cè)厚儀這種無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行，但前提是能了解影響QNix 尼克斯測(cè)厚儀精度的因素，做到有的放矢，在實(shí)際應(yīng)用中才能真正發(fā)揮其作用。
QNix 7500測(cè)厚儀尼克斯測(cè)厚儀代理
測(cè)量鋼，鐵，鋁，鋅，銅，黃銅7500模塊化測(cè)量系統(tǒng)提供高達(dá)5000μm的移動(dòng)性，高測(cè)量精度，易于處理和不同尋常的應(yīng)用。 QNix®7500是一種特別小巧便利的測(cè)量?jī)x，用于對(duì)所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進(jìn)行非破壞性測(cè)量。可以通過(guò)直接插入微型探頭或?qū)⑻筋^連接到插入的延長(zhǎng)電纜上使用。只需放置閱讀。通過(guò)簡(jiǎn)單的交換探頭，使QNix®7500適應(yīng)相應(yīng)的測(cè)量任務(wù)。可以使用多種可互換探頭。要更換探頭，只需拉出一個(gè)探針并插入另一個(gè)。然后立即開(kāi)始使用儀表。簡(jiǎn)單和用戶友好。即使在其基本版本中，QNix®7500也配備了RS 232或USB接口，可將讀數(shù)在線傳輸?shù)絇C。 盡管使用范圍非常廣泛，但QNix®7500特別小巧，方便。 創(chuàng)新的霍爾傳感器技術(shù)使得可以在沒(méi)有復(fù)雜的控制鍵和按鈕的情況下設(shè)計(jì)此儀表。 像Nix自動(dòng)化博士所有的手持式測(cè)量?jī)x器一樣，QNix®7500的特點(diǎn)是操作異常簡(jiǎn)單，安全，測(cè)量精度高，便于使用和大容量存儲(chǔ)。
